সিরামিক ক্যাপাসিটার বার্ধক্যের লুকানো ঝুঁকি কি?

প্রশ্ন: সিরামিক ক্যাপাসিটারগুলি বার্ধক্যজনিত ঘটনা দ্বারা প্রভাবিত হয়

সিরামিক ক্যাপাসিটরগুলি ডাইইলেকট্রিক স্ফটিক কাঠামোর পরিবর্তনের সাথে যুক্ত বার্ধক্যজনিত ঘটনা দ্বারা প্রভাবিত হয়, যা অস্তরক উপাদানের প্রাথমিক ফায়ারিংয়ের পরে ক্যাপাসিট্যান্স এবং অপসারণ ফ্যাক্টরের পরিবর্তন হিসাবে নিজেকে প্রকাশ করে।প্রতিষ্ঠিত মডেলগুলির সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ, EIA ক্লাস I অস্তরক উপাদানগুলি ন্যূনতমভাবে প্রভাবিত হয় এবং ব্যাপকভাবে অ-বার্ধক্য হিসাবে স্বীকৃত হয়, যখন EIA ক্লাস II অস্তরক পদার্থগুলি মাঝারিভাবে প্রভাবিত হয় এবং EIA ক্লাস III উপাদানগুলি বেশ মারাত্মকভাবে প্রভাবিত হয়।এই বার্ধক্য প্রক্রিয়াটিকে পুনরায় সেট করা যেতে পারে (বা ডিভাইস "ডি-এজিং") স্ফটিক কাঠামোকে পুনরায় গঠন করার অনুমতি দেওয়ার জন্য পর্যাপ্ত দীর্ঘ সময়ের জন্য ডাইইলেক্ট্রিকের কিউরি তাপমাত্রার উপরে তাপমাত্রার সংস্পর্শে আসার মাধ্যমে;তাপমাত্রা যত বেশি হবে তত কম সময় লাগবে।যেহেতু অনেক সিরামিক ডাইলেক্ট্রিকের কিউরি তাপমাত্রা অনেক সোল্ডারিং প্রক্রিয়ার সম্মুখীন হওয়া থেকে কম, তাই সম্ভবত অ্যাসেম্বলির সময় ডিভাইসটি অন্তত আংশিক বয়সী হবে।

একটি উপাদানের এই বার্ধক্য আচরণকে সাধারণত প্রতি দশকে প্রতি দশকে ক্যাপাসিট্যান্সের শতাংশ পরিবর্তন হিসাবে প্রকাশ করা হয়, "শেষ গরম" এ পরিমাপ করা ক্যাপাসিট্যান্সের তুলনায়, শেষবার যখন উপাদানটি তার ক্রিস্টালকে সম্পূর্ণরূপে পরিবর্তন করার জন্য যথেষ্ট পরিমাণে কিউরি তাপমাত্রার উপরে উত্তপ্ত হয়েছিল। গঠনঅন্য কথায়, "ওভেন ফ্রেশ" অবস্থায় 100uF-এ পরিমাপ করা (-)5% এর বার্ধক্য হার সহ একটি ক্যাপাসিটর, ওভেন থেকে 1, 10 এবং 100 ঘন্টা পরে আনুমানিক 95,90 এবং 85uF পরিমাপ করবে বলে আশা করা হবে। , যথাক্রমে।

স্পষ্টতই, এটি উপাদানটির নামমাত্র ক্যাপাসিট্যান্স কী হওয়া উচিত তা নিয়ে প্রশ্ন উত্থাপন করে এবং যদি সেই পরিমাণ ক্রমাগত পরিবর্তিত হয়, তবে উপাদানটি তার মূল প্যাকেজিংয়ে ব্যবহার না করা হলেও তাকটিতে ব্যবহার করা হবে।শিল্পের মান EIA-521 এবং IEC-384-9 এই সমস্যাটির সমাধান করে, মূলত উল্লেখ করে যে উপাদানটি শেষ গরম করার পরে 1000 ঘন্টা (প্রায় 42 দিন) তার নির্দিষ্ট সহনশীলতার মান পৌঁছাতে হবে।পরবর্তী দশ বছরের চিহ্ন (10K এবং 100K ঘন্টা) যথাক্রমে 1 বছরের একটু বেশি এবং 11 বছরের একটু বেশি।বিষয়গুলিকে আরও জটিল করার জন্য, বার্ধক্য প্রক্রিয়া তাপমাত্রা-নির্ভর হারে ঘটে;ডাইইলেক্ট্রিকের কিউরি তাপমাত্রা পর্যন্ত, ডিভাইসের তাপমাত্রা বৃদ্ধি সাধারণত বার্ধক্য প্রক্রিয়াকে ত্বরান্বিত করে।

যেহেতু বার্ধক্যজনিত ঘটনা ডিভাইসগুলিকে তাদের নির্দিষ্ট সহনশীলতার বাইরে প্রদর্শিত হতে পারে, তাই পণ্য ডিজাইনার এবং উত্পাদন পরীক্ষকদের অবশ্যই এই সত্য সম্পর্কে সচেতন হতে হবে;নতুনভাবে রিফ্লো করা উপাদানগুলির পরীক্ষায় কিছুটা উচ্চ ক্যাপ্যাসিট্যান্স মান আশা করা উচিত এবং ডিজাইনের বয়সের সাথে সাথে ডিভাইসের স্বাভাবিক ক্রিয়াকলাপকে সামঞ্জস্য করার জন্য যথেষ্ট মার্জিন থাকা উচিত।পাওয়ার কনভার্সন সার্কিটগুলি একটি ভাল উদাহরণ যেখানে এই প্রভাবটি একটি গুরুতর বিপদ সৃষ্টি করতে পারে, কারণ সিরামিক ক্যাপাসিটারগুলি সাধারণত এই ধরনের সার্কিটের নিয়ন্ত্রণ লুপগুলিকে দৃঢ়ভাবে প্রভাবিত করে, হয় ক্ষতিপূরণ নেটওয়ার্ক উপাদান বা ফিল্টার উপাদান হিসাবে।সমাবেশের সময় ক্যাপাসিটর বার্ধক্যের প্রভাবের অধীনে স্থিতিশীল প্রদর্শিত সিস্টেমগুলি সময়ের সাথে কম স্থিতিশীল হতে পারে, কারণ বার্ধক্যজনিত কারণে ক্যাপাসিট্যান্সের ক্ষতি নিয়ন্ত্রণ লুপের গতিশীলতাকে প্রভাবিত করে।সবচেয়ে গুরুত্বপূর্ণভাবে, সময়ের সাথে সাথে স্থিতিশীল ক্যাপাসিট্যান্স মান গুরুত্বপূর্ণ হলে, দৃশ্যমান বয়সী ক্যাপাসিটার ব্যবহার করা এড়িয়ে চলুন।

Zhejiang NeoDen Technology Co., LTD., 2010 সালে প্রতিষ্ঠিত, আমরা শুধুমাত্র আপনাকে উচ্চ মানের পিএনপি মেশিন সরবরাহ করতেই নয়, বিক্রয়োত্তর সেবার জন্যও ভালো অবস্থানে আছি।সু-প্রশিক্ষিত প্রকৌশলীরা আপনাকে যেকোনো প্রযুক্তিগত সহায়তা প্রদান করবে।

10 প্রকৌশলী শক্তিশালী বিক্রয়োত্তর পরিষেবা দল 8 ঘন্টার মধ্যে গ্রাহকদের প্রশ্ন এবং অনুসন্ধানের উত্তর দিতে পারে।

কর্মদিবস এবং ছুটির দিনে 24 ঘন্টার মধ্যে পেশাদার সমাধান দেওয়া যেতে পারে।